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《GB/T 12085.22-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗》是中國國家標準，屬于光學和光子學領域。該標準規(guī)定了在實驗室條件下進行光學和光子學設備的綜合環(huán)境試驗方法，涵蓋了低溫、高溫、溫度變化、碰撞和隨機振動等多個環(huán)境因素的綜合試驗。
一、范圍：
本文件描述了光學和光子學低溫，高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學和光子學儀器以及來自其他領域的組件(如機械、化學和電子設備)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗。
二、試驗項目：
溫度、振動綜合試驗。
三、試驗設備：
綜合試驗箱。
四、文檔獲取：
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五、試驗程序（部分）：
若進行溫度變化測試,則所需要的暴露時間從溫度變化開始時啟動。試樣和試驗箱(室)溫度應相同。
光學和光子學儀器試驗應采用半正弦脈沖。試樣應沿每個軸向每一方向經(jīng)受1 000次沖擊，或確定具體的沖擊次數(shù)。
隨機振動用數(shù)字控制的方式進行。加速度功率譜密度應采用按GB/T 2423.56的振動控制系統(tǒng)進行控制。
其他參數(shù)如低溫或高溫﹑溫度變化，隨機振動類型、溫度暴露時間，振動暴露時間，沖擊次數(shù).沖擊重復頻率、沖擊或振動軸、運行狀態(tài)等，應在相關(guān)規(guī)范中規(guī)定。
綜合環(huán)境試驗是為了模擬光學和光子學設備在實際使用中可能遇到的復雜環(huán)境條件，包括溫度變化、碰撞和振動等。這些試驗有助于評估設備在這些條件下的性能和可靠性，以確保其在實際應用中能夠正常工作。這對于需要在惡劣環(huán)境條件下使用的光學和光子學設備非常重要，如衛(wèi)星通信設備、激光測量儀器、航天器載荷等。通過進行綜合環(huán)境試驗，可以確定設備的耐受性，以減少在實際使用中的故障風險。
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