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SSD高低溫交變試驗機在固態硬盤的高低溫擦寫試驗

文章出處 : 技術知識 文章編輯 : 環儀儀器 閱讀量 : 發表時間 : 2024-11-06

固態硬盤的讀寫掉電測試一般都是在同一溫度(低溫或者高溫)下進行的,主要檢測產品貯存和使用的適用性。NVMe固態硬盤內部擔任儲存數據的重要組件是NAND閃存,影響NAND閃存的數據保存,除了擦寫次數,工作溫度也可以直接對固態硬盤的速度和數據保存造成影響。下面,我們來了解一下固態硬盤的高低溫擦寫試驗。

固態硬盤的高低溫擦寫試驗:

試驗設備:環儀儀器 SSD高低溫交變試驗機

試驗樣品:固態硬盤

運行環境:Linux系統。Linux系統工具需要配置安裝,如mke2fs、fdisk、mount、SMART(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology)等。

SSD高低溫交變試驗機在固態硬盤的高低溫擦寫試驗(圖1)

試驗過程:

步驟1、通過硬盤檢測工具SMART(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology)進行檢測,測試結果顯示通過,則說明固態硬盤健康狀態良好,如果顯示不良,則表示固態硬盤出現異常狀況。

步驟2、在高溫的溫度范圍為35~125℃下,往被測NVMe固態硬盤中寫入預設數據;

步驟3、在通電的狀態下靜置一段時間;

步驟4、靜置后進行掉電測試;

步驟5、檢查被測NVMe固態硬盤的健康狀態是否良好,如果良好,則執行步驟6,否則結束測試;

步驟6、在-40~0℃下,對被測NVMe固態硬盤執行讀取比對操作;讀取比對操作包括:首先順序讀出已寫入的數據,并與預設數據進行比較;然后隨機選擇一個預設數據的隨機地址并在此地址讀數據塊,再到已寫入的數據中找到其所在的位置,進行讀比對。

SSD高低溫交變試驗機在固態硬盤的高低溫擦寫試驗(圖2)

步驟7、在通電的狀態下靜置一段時間;

步驟8、檢查被測NVMe固態硬盤的健康狀態是否良好,如果良好,則執行步驟9,否則結束測試;

步驟9、生產測試結果,完成測試。

SSD高低溫交變試驗機在固態硬盤的高低溫擦寫試驗(圖3)

通過以上高低溫擦寫測試,一方面是模擬客戶在極端環境下,來檢測產品的穩定性和數據安全性能;另一方面能夠為產品迅速找出極限點,并從所提供的詳細測試報告中改善產品弱點。


入有SSD固態硬盤的試驗疑問,可以咨詢環儀儀器相關技術人員。

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